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技術支持

X射線熒光光譜分析儀計數率不穩定分析處理建議
更新時間:2016-10-28   點擊次數:1166次
  X射線熒光光譜分析儀因其對元素分析有著的性能,而非常受市場的歡迎。X射線熒光光譜分析儀是光譜儀的一種,其在運行過程中有時會出現計數率不穩定的情況。X射線熒光光譜分析儀的常用探測器有二個:閃爍計數器和流氣計數器。兩者相比較而言,閃爍計數器比流氣計數器更穩定。因此,X射線熒光光譜分析儀出現計數率不穩定的情況時,其問題通常出現在流氣計數器上。
 
  流氣計數器窗膜由一塊聚酯薄膜、hostaphan膜或聚丙烯薄膜鍍上一層很薄的鋁膜所構成,由于窗膜承受大氣壓力,一段時間后隨著基體材料的延展,鋁膜可能產生裂紋,從而減弱導電性能,這種情況對脈沖高度分布影響不大,但會使計數率不穩定。檢查方法:在低X射線光管功率情況下,選一個KKα計數率約2000CPS的樣品,測定計數率,然后用一個鉀含量高的樣品取代原樣品,將光管調到滿功率,保持2分鐘,再將X射線光管功率減至原值,測量*個樣品,如窗膜導電正常,將得到原計數率,如窗膜導電性能變差,會發現計數率減小,然后慢慢回升至初始值,這種情況下就應對窗膜進行調換。
 
  X射線熒光光譜分析儀出現計數率不穩定的情況時,應及時對儀器進行檢查,尋找到故障原因并進行排除。

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