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　　X射線熒光鍍層測(cè)厚儀是一種常用于材料表面分析的非破壞性檢測(cè)設(shè)備，可用于測(cè)量各種金屬、合金、陶瓷和涂層材料的厚度及成分。其工作原理基于X射線與物質(zhì)的相互作用，下面將對(duì)其進(jìn)行詳細(xì)介紹。
 

　　X射線熒光鍍層測(cè)厚儀的工作原理：

　　對(duì)被測(cè)樣品發(fā)射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個(gè)化學(xué)元素會(huì)釋放出特定能量的X射線。通過(guò)測(cè)量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強(qiáng)度，X射線分析儀就能夠?qū)Ρ粶y(cè)材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。
 

　　X射線熒光鍍層測(cè)厚儀的工作特點(diǎn)：

　　1、測(cè)量元素范圍：鈦Ti22---鈾U92；

　　2、測(cè)量5層(4層鍍層+底材層)鍍層，同時(shí)分析15種元素，自動(dòng)修正X射線重疊譜線；

　　3、測(cè)量精度高、穩(wěn)定性好，測(cè)量結(jié)果*確至μin；

　　4、快速無(wú)損測(cè)量，測(cè)量時(shí)間短，10秒內(nèi)得出測(cè)量結(jié)果；

　　5、可分析固體、溶液；定性、半定量和定量分析；

　　6、進(jìn)行貴金屬檢測(cè)，如Aukarat評(píng)價(jià)；

　　7、材料鑒別和分類(lèi)檢測(cè)，材料和合金元素分析，元素光譜定性分析；

　　8、強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、處理功能：平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差、*大值、*小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、數(shù)據(jù)編號(hào)、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖；

　　9、結(jié)果輸出：直接打印或一鍵導(dǎo)出到PDF、Excel文件；報(bào)告包含數(shù)據(jù)、圖像、統(tǒng)計(jì)圖表、客戶(hù)信息等；

　　10、測(cè)量位置預(yù)覽功能；高分辨率彩色CCD樣品觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)放大倍數(shù)為30倍；

　　11、激光對(duì)焦和自動(dòng)對(duì)焦功能；單擊鼠標(biāo)，Z軸自動(dòng)掃描，鐳射聚焦。
 

　　總之，X射線熒光鍍層測(cè)厚儀利用了X射線與物質(zhì)的相互作用原理進(jìn)行非破壞性檢測(cè)。它可以用于測(cè)量各種金屬、合金、陶瓷和涂層材料的厚度及成分，并且在許多應(yīng)用領(lǐng)域中都具有廣泛的用途。