產(chǎn)品目錄
聯(lián)系方式
惠州市華高儀器設(shè)備有限公司
聯(lián)系人：范志華
電話/傳真：0752-7168848
地址：惠州市江北文昌一路11號(hào)華貿(mào)大廈T3寫字樓1707-1708
郵編：516003
郵箱：1932151337@qq.com
聯(lián)系人：范志華
電話/傳真：0752-7168848
地址：惠州市江北文昌一路11號(hào)華貿(mào)大廈T3寫字樓1707-1708
郵編：516003
郵箱：1932151337@qq.com
技術(shù)文章
- 菲希爾XAN500手持膜厚儀：高精度便攜測量
- 如何校準(zhǔn)X射線熒光鍍層測厚儀以確保測量精度？
- 貴金屬元素分析儀的校準(zhǔn)方法有哪些？
- 美國丹納赫E-MAX：革新重金屬檢測技術(shù)的便攜式X熒光分析儀
- 派克DA400S：高性能便攜式磁粉磁軛探傷儀，無損檢測的新選擇
- ROHS檢測光譜儀的基本工作原理介紹
- 貴金屬元素分析儀在貴金屬礦石勘探和礦產(chǎn)開發(fā)中的作用是什么？
- 島津MIV-X超聲波光探傷裝置：創(chuàng)新技術(shù)無損檢測新時(shí)代
- 海克斯康三坐標(biāo)Leitz Infinity：超高精度測量
- 日本電子JSM-IT800掃描電鏡：科研工業(yè)新選擇
產(chǎn)品中心
| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱/型號(hào) | 產(chǎn)品描述 |
-
華唯貴金屬分析儀$nUx-6200貴金屬分析儀專門針對(duì)貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對(duì)貴金屬成份進(jìn)行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，其分辨率為149±5eV，運(yùn)用*于的基本參數(shù)法，能夠準(zhǔn)確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素，其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)*水平。 -
Ux-6200貴金屬分析儀$n專門針對(duì)貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對(duì)貴金屬成份進(jìn)行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，其分辨率為149±5eV，運(yùn)用*于的基本參數(shù)法，能夠準(zhǔn)確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素，其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)*水平。 -
貴金屬元素分析儀ux-260系列：首飾廠來料、過程打磨料、回收料和成品的成色檢驗(yàn)，銀行貴金屬/黃金產(chǎn)品回收成分的檢測，金店成品檢驗(yàn)和首飾回收成分的檢驗(yàn)，典當(dāng)行貴金屬和首飾典當(dāng)價(jià)值的評(píng)估，金銀貴金屬檢測機(jī)構(gòu)實(shí)驗(yàn)室和院校教學(xué)
